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在最新的 weCat3D 系列中,MLSL2x6 的 X 轴最大测量范围为 1,350 mm。

选择的激光应是红色还是蓝色取决于材料,有时还取决于项目。蓝色激光通常用于塑料或有机材料,因为这样可以最大程度降低激光的穿透性能。即使对于反射性很强的物体,蓝色激光也比红色激光更有优势。对于深色表面,例如轮胎工业的橡胶或黑森林火腿等,选用红色激光被证明比较适合。

否,轮廓拍摄是通过物体上的激光线反射实现的,不需要额外的照明。

我们的 2D/3D 轮廓传感器是根据相应的冲击和振动测试基本标准(EN 60068-2-6:2008 和 EN 60068-2 27:2009)的测试和测量方法检测的。为此,我们使用相应产品标准的极限值(EN 60947-5-2:2007 + A1:2012)。我们的 weCat3D 系列传感器通过了光学传感器标准测试范围内出现的负载,其极限值为: 

冲击:脉冲时长为 11 ms 时峰值加速度为 300 m/s² 

振动:50…2,000 Hz 频率下加速度为 5 G 

是的,可以通过升级许可证将 weCat3D 系列用作智能 2D/3D 轮廓传感器,并可用传感器上的 uniVision 软件分析 2D 轮廓。

是的,请使用以下方式:显示屏 -> 模式 -> 实时图像。

作为配件可以向客户提供用于相应 2D/3D 轮廓传感器的防护片保持器。

从环境温度约为 40 摄氏度起,我们建议安装一个冷却模块。

weCat3D 标准传感器的防护等级为 IP67,无法保证水蒸气不会进入传感器。在 IP67 认证中,未确定气密性。
为了提供充分的保护,客户需要自配能防止水蒸气的防护外壳。

是的,在炽热的材料(<1,000 °C)上,例如在钢铁行业,我们可以用激光类别为 3B 的 2D/3D 轮廓传感器以及 450 nm 的波长进行稳定的测量。

3R 或 3B 类激光的应用取决于具体应用。
如果传感器与物体之间的距离较远,则 CMOS 芯片上的激光强度会降低,并且不能可靠生成轮廓。尤其是对于深色物体,必须考虑这一点。三类激光也用于非常快速的应用,因为由于测量频率高(测量速率),曝光时间只能很短。测量频率取决于曝光时间的时长。
另一个因素是环境光线(例如在户外使用时),由于曝光时间较短,进入摄像头的外来光线也较少。

否,目前我们只为 MLSL2 系列提供安全的激光关闭装置。为此还需要一根额外的电源电缆。对于所有其它 3 类激光 weCat3D 传感器,客户必须采取额外的安全预防措施。

否,分辨率是指可以通过传感器区分的最小可感知值。为了达到精度,除了分辨率之外,还必须考虑材料特性、环境温度、振动、传感器支架、软件算法等外部因素。这些会影响整个系统的测量精度。

该值对应于X 测量范围的计算值除以 X 行上 CMOS 芯片的像素数量。 

这里列举几个例子:
MLSL1x1 -> 27 mm:1280 = 0.022 mm(22 µm)

否,像素数量保持不变且不偏移。但对于 MLSL,可以通过限制 X 测量范围提高测量频率(测量速率),因为芯片上必须读取的线像素更少。对于 MLWL,仅减少数据量。此处测量频率不增加。

在 Z 分辨率方面,CMOS芯片、高质量的激光线、光学系统和数学方法(亚像素插值)起着重要的作用。
因此,我们得到的分辨率比仅通过计算获得的要高(约 10 倍):
测量范围除以 CMOS 芯片像素数量。

该数据基于 EN 60947-5-2 标准规定的 5,000 Lux。

由于 CMOS 芯片大且测量范围最小,MLWL1x1 是产品系列中分辨率最佳的传感器。

此数据表示平均使用寿命。这是在标准条件下运行的各个产品的平均使用寿命。 
使用寿命取决于激光器。如果激光器没有连续工作,使用寿命会相应延长。

在对传感器进行线性化 / 校准时,将传感器放在一个非常精密的线性化工作台上,并对准一个非常精确的校准件。在传感器的整个 Z 测量范围内进行线性化,并相对于理论轮廓位置确定校准件在 CMOS 芯片上的实际轮廓位置。实际和理论位置数据作为校准矩阵存储在线性表中。

不可以,只能通过 TCP/IP 以太网接口发送轮廓数据,因为从技术角度看它也没有性能优势。

 

施加电压后,预热阶段约为 15 分钟。需要注意的是,客户自配的传感器支架会影响预热阶段。

显示传感器自身的温度。温度传感器位于处理器附近。

您可在 OLED 显示屏中找到地址:
接口 -> 以太网 -> IP 地址。

使用 12 针电源电缆可以连接 HTL 或 TTL 编码器。

通过传感器或软件中的设置选项进行手动测试测量,或者通过自动曝光时间调节系统从 FW 1.2.0 起测试相应物体。

为了实现均匀的信号分布和最佳的轮廓质量,必须尽量避免倾斜。但是,如果无法避免倾斜,我们的 weCat3D 系列传感器仍能凭借大的动态范围提供非常可靠的测量值。
 

否,对于 OPT3013,由于激光分类为二类激光,必须满足某些条件(参见操作说明书)。

由于 MLWL2 的三角测量角较小(基于激光模块与摄像头的较小距离),测量范围较大时外壳更紧凑。
因此,MLWL1 系列针对更高的分辨率进行了优化,结构紧凑的 MLWL2 系列针对测量范围进行了优化。

在传感器中使用较大的 CMOS 芯片时,MLWL 具有较高的分辨率。
MLWL 中的光学元件和滤光片质量更高(例如对于反射强烈的物体非常重要)。
MLWL 中的激光模块也提高了激光线的质量,并可改善待检测物体的轮廓显示。为此,MLSL 系列的重量非常轻,因为外壳由连铸铝型材制成,而不是像 MLWL 那样由全铣削的铸铝体制成。

否,在技术上只有 MLSL 才能实现。对于 MLWL,仅减少数据量。

否,如果在整个 Z 测量范围内完全使用所有 CMOS 线,则 MLWL 传感器的最大采样频率为 175 Hz。测量频率的增加只能通过限制 Z 测量范围或减少 CMOS 线数来实现。这样,就能从 CMOS 芯片上读取更少的行,从而加快处理速度。因此,在 6 kHz 的测量频率下,只能读取几行或 Z 测量范围非常有限。

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