使用 wenglor 产品能够可靠识别双张
检测双张材料不受材质的影响
能够可靠检测双张金属、塑料、纸张或无纺布以及透明材料。
可重复的测量结果
响应时间短,重复精度高,即使在快速的周期时间和材料批次变化的情况下也能确保稳定的检测。
极高的过程可靠性
提前识别多层可防止加工错误和故障。
调试速度快
采用紧凑型设计和标准化接口可以实现轻松的集成。
双张检测的测量方案
固定参考背景的单侧检测 h3>
在单面双张检测中,材料厚度仅由一个传感器检测,该传感器对准稳定、平整和固定的背景。测量是非接触式的,可对单层材料和双张材料进行可靠的区分。这种配置尤其适用于安装空间有限或输送路径仅单侧可接触的工况。
移动参考背景的单侧检测 h3>
在这种测量方式中,传感器并排安放。一个传感器直接测量物体的材料厚度,另一个传感器持续测量移动表面的高度,例如传送带。根据这两个信号的差值计算出物体的有效厚度。如果超过规定的阈值,会检测到双张。这种方式尤其适用于没有固定参考背景的动态过程。
双侧检测 h3>
在双侧双张检测中,两个传感器检测相对侧的材料厚度。通过非接触式测量和随后的单个数值计算可以精确地测定物体厚度。这种测量方式特别适用于物料自由流动的应用,并可提供高的测量精度。
wenglor 为双侧双张识别提供特别便捷的解决方案:获得专利的 T 型分配器将主传感器与辅助传感器正确地连接起来,并确保传感器自动调整为适当的运行模式。通过即插即用功能可以轻松地调试,无需 IO-Link 也可进行配置。根据需要,可通过适当的连接电缆灵活地延长 T 型分配器。
或者也可在不使用 T 型分配器的情况下实现双侧检测。
双张检测的应用范围
解决方案概览
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